Metrologia

La Metrologia industriale ha come scopo quello di andare a quantificare le deviazioni dell’oggetto osservato rispetto ad un oggetto di riferimento. I sistemi metrologici di scansione 3D permettono di avere un’informazione molto più completa rispetto ai sistemi di misura tattile in quanto si va oltre il semplice, se pur necessario, valore numerico. Grazie alla mappa cromatica, ottenibile sovrapponendo la scansione dell’oggetto di test rispetto da un oggetto campione o un modello CAD, è possibile evidenziare in modo immediato e di facile lettura eventuali difetti riducendo di conseguenza i tempi di analisi, e quindi i costi, necessari ad indagare sulle cause delle non conformità

Video

AMBITI APPLICATIVI DELLA METROLOGIA

Contatta i nostri esperti

Siamo a tua disposizione per rispondere a domande sui nostri prodotti e fornirti la consulenza di cui hai bisogno.
MicroGeo © 2024 powered by Webolik. Tutti i diritti riservati

Seguici sui nostri social

×

Contattaci tramite Whatsapp

× Contattaci